بهبود برآورد ضخامت لایههای نازک در حوزه کوفرنسی
نویسندگان
چکیده مقاله:
در لرزهشناسی تهیه یک مقطع لرزهای با قدرت تفکیک زیاد همواره یکی از اهداف پردازشگران و مفسران است و برآورد ضخامت لایهها، بهخصوص لایههای نازک یکی از ابزارهای مهم برای رسیدن به این هدف است. لایههای نازک موجب میشوند تا قلهها و شکافهای متناوبی در طیف دامنه ردلرزه تولید شود. در روش تجزیه طیفی که مرسومترین روش است، بسامد مربوط به اولین قله در طیف دامنه ردلرزه دو برابر میشود تا زمان تناوب شکافهای تولید شده بهدست آید که برابر با عکس ضخامت لایه نازک است (آنستی، 1977). در این تحقیق، نمونهای از روش تجزیه طیفی به نام تجزیه کپسترال بهکار رفته است. روش تجزیه کپسترال میتواند با دقت خوبی فاصله بین شکافهای تولید شده در طیف دامنه را به کمک محاسبه تبدیل فوریه از لگاریتم طیف دامنه ردلرزه بهدست آورد. در این تحقیق روش تجزیه کپسترال را روی مدلهای متفاوت, اِعمال و نتایج آن را با روشهای برآورد ضخامت از راه تجزیه طیفی و همچنین برآورد ضخامت بهروش اندازهگیری اختلاف زمانی بین رویدادهای لرزهای مقایسه میکنیم. نتیجه نشان میدهد که روش تجزیه کپسترال این توانایی را دارد که دقت برآورد ضخامت لایههای نازک را به شکل قابلملاحظهای بهبود بخشد.
منابع مشابه
بهبود برآورد ضخامت لایه های نازک در حوزه کوفرنسی
در لرزه شناسی تهیه یک مقطع لرزه ای با قدرت تفکیک زیاد همواره یکی از اهداف پردازشگران و مفسران است و برآورد ضخامت لایه ها، به خصوص لایه های نازک یکی از ابزارهای مهم برای رسیدن به این هدف است. لایه های نازک موجب می شوند تا قله ها و شکاف های متناوبی در طیف دامنه ردلرزه تولید شود. در روش تجزیه طیفی که مرسوم ترین روش است، بسامد مربوط به اولین قله در طیف دامنه ردلرزه دو برابر می شود تا زمان تناوب شکا...
متن کاملبررسی اثر ضخامت لایههای نازک بسبلوریSnO2 در حسگری گازهای O2 و CO2
در این تحقیق سه نمونه از لایه های نازک اکسید قلع خالص را که به روش اسپری پایرولیزیز بر روی زیرلایه شیشه لایه نشانی شده اند مورد مطالعه قرار دادیم. اینها به عنوان حسگر گازهای اکسیژن و دی اکسیدکربن استفاده میشوند. طیف عبوری لایه ها حاکی از نازکی لایه ها در محدوده نانومتری (nm 200-150)، و طیف XRD نشانگر تغییر سمتگیری بسبلوری از (200) به (110) میباشد که این تغییر سمتگیری بلوری به دلیل تغییر ضخام...
متن کاملاندازه گیری ضخامت شکست لایه های نازک
در این رساله نخست تاریخچه تهیه لایه نازک ، چگونگی تهیه و روشهای مختلف همچنین شرایط لایه گذاری ذکر گردیده سپس چگونگی آماده سازی زیر لایه و شرایط لازم برای لایه نشانی آمده است . در ادامه راههای مختلف اندازه گیری ضخامت و همچنین دقت روشهای مختلف اندازه گیری بیان شده است . در قسمت کارهای عملی و تحقیقات انجام شده سیستمهای لایه گذاری مورد استفاده به همراه شمای اپتیکی دستگاه نشان داده شده است . در این ...
15 صفحه اولساخت نمونه وبررسی تجربی پدیده های ترموکرومیسم و الکتروکرومیسم در لایههای نازک اکسید وانادیم
در تحقیق حاضر، لایههای نازک اکسید وانادیوم به دو روش تبخیر حرارتی در خلاء و اسپری پایرولیزیز تهیه و خواص الکتروکرومیکی و ترموکرومیکی این لایهها و اثر پارامترهایی چون تغییر ضخامت، تغییر غلظت، دمای بازپخت و دمای زیرلایه بر خواص اپتیکی مورد بررسی قرار گرفته است. طیف عبوری نمونهها در محدودهی uv-vis اندازهگیری و گاف انرژی، نوع گذار الکترونی و همچنین ثابت های اپتیکی محاسبه شده اند. به منظور برر...
15 صفحه اولطراحی و ساخت لایههای نازک اپتیکی با نمایه ضخامت متغیر برای تولید آینههای VRM
The design method and fabrication of mirrors with variable reflectivity are presented. To fabricate such a mirror a fixed mask with a circular aperture is used. The circular aperture is considered as an extended source with cosx(θ)as its diffusion distribution function and is the parameter for the distribution function of the particles through the aperture. The thickness profile of deposited ...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
عنوان ژورنال
دوره 38 شماره 2
صفحات 91- 105
تاریخ انتشار 2012-07-22
با دنبال کردن یک ژورنال هنگامی که شماره جدید این ژورنال منتشر می شود به شما از طریق ایمیل اطلاع داده می شود.
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023